半导体封装高低温冲击试验机

半导体封装高低温冲击试验机

别名：

高低温冲击试验箱/温度快速变化试验机/冷热冲击试验箱

高低温冲击箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业*的测试设备， 用于测试材料结构或复合材料，

在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。分为两厢式和三厢式，区别在于试验方式和内部结构不同，产品符合标准为:GB/T2423.1-2008试验A 、GB/T2423.2-2008试验B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。

箱体结构：

全部功能采用计算机控制，系自主开发的软件，有良好的操作界面，使用户的操作和监测都更加简单和直观，保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下，可以临时更改此程序段的数值，可以在屏幕上设置时间的参数，使制冷、加热、提蓝传送切换，按设定值自动进行。

冷箱、热箱独立控制，箱门互相独立，扩大试验箱的使用范围(一箱三用)。

产品保温效果可以得到充分保证。

试验箱门与循环风机，提篮传动等互锁，保护操作者的安全，一旦打开箱门，循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。在箱顶有标准引线孔管，方便用户向箱内引入传感器线，检测电缆等类型引线。

控制系统：

主控制器采用进口日本"OYO"双回路高精度液晶显示触摸按键温度控制器。该控制器采用液晶显示触摸屏，可显示设定参数、试验曲线、运行时间、加热器工作状态，PID参数自整定功能。控制程序的编制采用人机对话方式，仅需设定温度，就可实现制冷机自动运行功能。控制系统具备完善的检测装置能自动进行详细的故障显示。报警，配置485通讯接口及运行软件。设定精度:温度:0.1℃ 时间:Is用户程序容量:10×99段。运行方式:程序运行，恒定运行。独立超温保护仪表。设备工作时间累计计时器。低温区、高温区转换时间小于等于15秒。 温度恢复时间小于等于5分钟。

半导体封装高低温冲击试验机

产品用途:
冷热冲击箱适用于电子、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，测试各种材料对高、低温的反复抵拉力，试验产品于热涨冷缩产生的物理伤害或化学变化，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的认同。

技术参数：
1、温度范围：
高温区：+60 ℃ ～ 200 ℃ 
低温区：A/-10 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-60 ℃ , C/-10 ℃～-70 ℃
工作室：A/0 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-55 ℃ , C/-10 ℃～-65 ℃
2、温度波动度: ±0.5℃
3、温度均匀度：±3℃
4、温度恢复时间:3~5min
5、高温槽升温速度:平均约5℃/min
6、低温槽降温速度:平均约1.5℃/min
7、高低温暴露时间:30min以上
8、高低温转换时间：≤15秒