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三箱式冷热冲击试验箱电子芯片IC变化检测

型号:TSD-80F-3P

浏览量:1627

更新时间:2024-09-07

价格:79000

简要描述:

三箱式冷热冲击试验箱电子芯片IC变化检测
该产品适用于电子元气件的性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

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三箱式冷热冲击试验箱电子芯片IC变化检测
品牌HT/皓天价格区间5万-10万
产地类别国产应用领域能源,电子,冶金,航天,电气

三箱式冷热冲击试验箱电子芯片IC变化检测

 

三箱分别分为高温箱,低温箱,测试箱,采取*的自动切换方式,让产品在测试区接受高温和低温的检验,为产品的技术改良提供有效依据。

主要用于产品在瞬间低温和瞬间高温情况下,检测产品的忍耐能力和耐环境破坏能力。冷热冲击试验箱适用范围:LED,电池,电子,电工,化工,汽车,数码,电脑,塑胶,玻璃等产品和零配件。

 

三箱式冷热冲击试验箱价格的箱体结构:

高低温冲击试验箱全部功能采用计算机控制,系自主开发的软件,有良好的操作界面,使用户的操作和监测都更加简单和直观,保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下,可以临时更改此程序段的数值,可以在屏幕上设置时间的参数,使制冷、加热、提蓝传送切换,按设定值自动进行。
冷箱、热箱独立控制,箱门互相独立,扩大试验箱的使用范围(一箱三用)。
产品保温效果可以得到充分保证。
试验箱门与循环风机,提蓝传动等互锁,保护操作者的**一旦打开箱门,循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。在箱顶有标准引线孔管,方便用户向箱内引入传感器线,检测电缆等类型引线。

三箱式冷热冲击试验箱电子芯片IC变化检测

 

性能
指标

温度范围

A:-20℃~200℃ B:-40℃~200℃C:-60℃~200℃

 

温度波动

高温室及低温室均±2℃

 

样品区温度波动

±0.5℃(恒温时)

 

样品区承重

30kg

30kg

50kg

60kg

温湿度运行控制系统

控制器

进口LED数显(P·I·D +S·S·R)微电脑集成控制器

 

精度范围

设定精度:温度0.1℃,指示精度:温度0.1℃,解析度:0.1℃

 

制冷系统

进口德国谷轮半封闭水冷式压缩机组/原装法国“泰康”/全封闭风冷复迭压缩制冷方式

 

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